19. Анализ Паретто
Все возможные причины, влияющие на качество изделий делятся на две группы:
1- немногочисленные существенно важные. (К ним относятся небольшое число причин, которые оказывают существенное воздействие на изделие)
2- многочисленные несущественные.Эту группу составляют большое число причин, оказывающих незначительное воздействие.
Для решения проблемы сокращения числа дефектных изделий в первую очередь следует найти существенно важные причины, вызывающие появление дефектных изделий, и после того, как они будут чётко определены - устранить их.
Процедура поиска причин появления дефектных изделий среди многочисленных факторов называется диагнозом процесса.
Алгоритм построения диаграммы Паретто.
1) определение объекта исследования. 2) выбор способа классификации данных 3) установление способа и периода сбора данных. 4) разработка контрольного листа для регистрации данных с перечнем видов собираемой информации5) заполнение листка регистрации данных и подведение итогов. 6) разработка с целью проверки данных бланка таблицы, содержащего графы для итогов для каждого проверяемого признака в отдельности, накопленной суммы числа дефектов, процентов к общему итогу и накопленных процентов. 7) расположение данных в порядке значимости по каждому проверяемому признаку и заполнения таблицы. 8) построение диаграммы. Для этого чертят одну горизонтальную и две вертикальные оси.
1--Вертикальные оси. На левую ось наносится шкала с интервалом от 0 до общего итога.На правую ось наносится шкала с интервалами от 0 до 100%.
2--Горизонтальная ось. Она делается на интервалы в соответствии с числом контролируемых признаков
3--Построение столбиковой диаграммы
4— построение кумулятивной кривой ( кривой паретто)
5— нанесение на диаграмму всех обозначений и подписей (наименование диаграммы и контролируемого изделия, имя составителя период сбора данных, общее число объектов контроля.
Различают два вида диаграмм Паретто.
1) диаграмма Паретто по результатам деятельности. Предназначена для выявления главной причины и отражает нежелательные результаты деятельности. Применяется в области качества (дефекты, поломки, ошибки), при расчёте себестоимости( объём потерь, затраты), при установлении сроков поставок (нехватка запасов, сроков поставок), в области безопасности
2) диаграмма Паретто по причинам. Отражает причины проблем, возникающих в ходе производства и используется для проявления главных из них.
Рекомендации по постарению диаграммы Паретто.
1) целесообразно использовать разные принципы классификации и составлять много диаграмм Паретто.
2) не желательно, чтобы группа "прочие" факторы составляла большую долю.
3) если данные можно представить в денежном выражении, лучше всего показать это на вертикальных осях диаграммы Паретто.
4) если нежелательный фактор можно устранить с помощью простого решения, это нужно сделать незамедлительно, не зависимо от того, каким бы незначительным он не был
5) не упускайте возможности составить диаграмму по причинам.
- 1.Конкурентная среда рыночной экономики как стимул развития менеджмента качества.
- 2.Взаимосвязь общего менеджмента и менеджмента качества.
- 4. Методы ук.
- 5. Формирование и развитие научных школ ук.
- 6. Системный подход к организации системы управления качеством на предприятии
- 7. Методы моделирования систем управления качеством.
- 8. Командная работа по повышению качества. Типы команд всеобщего управления качеством. Эффективная командная работа. Критерии командной эффективности. Роли в команде.
- 9. Лидерство в вопросах качества. Роли лидеров в качестве. Лидерство в качестве на практике. Всеобщее качество и теория лидерства.
- 10. Принятие управленческих решений в области качества.
- 11. Обобщённая оценка уровня качества при многокритериальной оценки.
- 12. Интегральное качество.
- 13. Управление качеством в процессе проектирования
- 14. Элементы управления качеством в процессе закупок
- 15. Функции управления качеством, реализуемые в процессе производства и обслуживания
- 16. Этапы формирования затрат на качество продукции
- 17. Контрольные карты.
- 3) Контрольная карта np
- 5) Контрольная карта суммарного числа дефектов с-карта
- 6) Контрольная карта числа дефектов на единицу продукции u-карты
- 18.Контрольные листки
- 19. Анализ Паретто
- 20. Диаграмма Исикавы причина-результат
- 21. Гистограмма
- 22. Диаграммы рассеивания
- 23. Метод регрессивного анализа